近红外荧光光谱仪

法国Jobin Yvon NanoLog型近红外荧光光谱仪专门为纳米技术和纳米材料前沿研究设计的，可以提供红外荧光快速测量系统。其模块化的配置和功能满足您专一的和全面的要求。标准检测器配置为800nm-1700nm的CCD，也可通过选取配置延伸至2200nm的红外区和紫外、近红外区。
仪器主要特点：
1、随机配置的可更新单壁碳纳米管数据库提供半导体型SWCNTs的分类。
2、专利的表面三维数据拟合技术，提供样品中单壁碳纳米管的分类和含量比例；最新添加的可选Raman-NanoLog方案，可以在荧光测量同时获得Raman信息。
3、可选的透射吸收附件，可用于吸光度测量，同时用于再吸收的校正。包括金属型的SWCNT。
4、知名的NanoSizerTM软件作为标准配置；
● PL mapping Characterization of SWCNTs
● Raman Characterization of SWCNTs
● Optical Absorption of SWCNTs