SMX-1000/SMX-1000L采用FPD(数字式平板检出器)和密闭式微焦点X射线管球,可以得到没有变形和重影的清晰的透视图像。另外,设备操作软件在指定检查样品种类后就可自动设定检查条件,通过简单操作就可高效地完成作业。设备上的CCD相机可拍摄样品实物图片,从而实现导航功能、步进功能、教学功能、图像数据功能以及各种测量功能。
如果在设备上增加VCT组件(选购件),还能够轻而易举地获得CT图像。 |
用途 SMX-1000/SMX-1000L能够通过非破坏检查方法对高密度实装基板和BGA、CSP、系统LSI等超细微部分的结合状态(断路、短路)进行高放大倍数透视检查。 |
特点 |
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主要规格 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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选购件 |
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