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X射线荧光光谱分析：通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线，通过分析次级X射线的方法叫做X射线荧光光谱分析。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素 （Na）到92号元素（U）。
一台典型的X射线荧光光谱分析（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器通过软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。作为一种元素分析技术，现在已完全成熟，已广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。
目前X射线荧光光谱分析仪分为波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)两种，以下是它们原理构造图：
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