JW-K比表面积及孔隙率测试仪

JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪 许多超细粉体材料的表面是不光滑的，甚至是多孔的，而且其孔的大小、形状、数量与它的表面特性有密切关系，因此，除了测定比表面外，测定粉体材料表面微孔的孔径分布亦具有重要意义。 国际理论与应用化学协会曾把这些微孔按尺寸大小分为三类：小微孔，孔径≤2nm；中微孔，孔径2-50nm；大微孔，孔径≥50nm；其中中微孔具有最普遍的意义，用氮吸附方法测定孔径分布正好能满足这一孔径范围。 氮吸附法测定比表面及孔径分布都是利用氮的等温吸附特性：在液氮温度下，氮分子在材料表面的物理吸附量取决于氮气的相对压力P/P0，其中P为氮气分压，P0为液氮温度时氮的饱和蒸气压，当P/P0在0.05～0.35范围时，吸附量与P/P0符合BET方程，以此为基础，成为比表面测定的依据；当P/P0≥0.4时，由于产生了毛细凝聚现象，吸附量与表面微孔的尺寸相关，以此为基础，则成为测定孔径分布的依据。 一、技术参数 测量原理： 动态常压连续氮吸附法（国内首创） 气体： 高纯氮（99.99%）、高纯氦（99.99%） 气体流量： ≤100mL/min 流量控制： 稳压稳流系统，高精度流量传感器，数字显示，显示精度0.1% 测量压力： 常压 氮气相对压力：调节范围 0.05-0.98 主机功能： （1）吸（脱）附等温曲线测定 （2）孔径分布测定 （3）BET比表面测定，并可测定吸附常数C 值 （4）比表面快速测定（直接对比法） 测定范围： （1）孔径：2nm～200nm (2) 比表面：0.1~3500