详细说明
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CT-2 涂层测厚仪产品说明
特性:
1.各种镀层(多层、合金、多层镍)的精密测量;
2.除平板形外,还可以测量圆形、棒形(细线)等各种形状
3.可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层;
4.可对测量数据进行统计处理,以及和主机进行共同管理;
5.可测量0.01~300的镀层;
6.由微处理器来进行计算、储存、思考;
7.本膜厚仪采用全对话式操作。因此,只要依照测量条件来进行设定就可测量情况,非常简 单;
8.由于可储存64个不同的测量情况,所以有相同的测量情况时,就不必再进行设定;
9每个测量条件可储存9999个数据。
10.最多可设定四层镀层,而每一层均可进行统计处理。
例如:测量条件、平均值、最大值、上下限值、直方图均可进 行计算并可由打印机打出,制作测量报告易学,易懂;
11.每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择,均可由 微处理器自动判断、设定;
12.标准板校正值的计算和设定可自动进行;
13.测量数据可由通讯网络来传输,所以能和主机共同进行数据管理;
14.由于分解速度差距分得很细,因此可缩短测量时间;
15.可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层;
16.有表面活性化的功能,表面处理起来方便简单;
17.独特的测量台(电测公司专利)是利用条形弹簧方式