梅特勒AB-204S基础型分析天平

梅特勒-托利多基础型分析天平AB-204S的性能： 采用高分辨率的称量单元，满足用户高精度的称量需求 称量单元保护装置（CellProtector），提高产品的抗冲击、过载性能 坚固的金属机架，避免称量样品的污染，延长天平的使用寿命 可读性为0.1mg天平采用背亮式液晶显示屏（Backlit LCD），方便用户读取称量结果 内置砝码校准，确保称量结果的准确性 双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求 可以拆除的防风罩设计，实现天平的快速清洁 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备 标配机架塑料保护罩（Protective cover），避免散落样品的腐蚀 具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序 梅特勒-托利多基础型分析天平AB-204S的技术参数： 基础型分析天平AB-S系列 AB135-S AB265-S AB54-S AB104-S AB204-S AB304-S 双量程 双量程 可读性 0.01/0.1mg 0.01/0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 最大称量值 31/120g 61/220g 51g 110g 220g 320g 重复性(s) 0.03/0.1mg 0.05/0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 0.1mg 线性 ±0.2mg* ±0.2mg* ±0.2mg ±0.2mg ±0.2mg ±0.2mg 秤盘尺寸(mm) Φ80 Φ80 Φ80 Φ80 Φ80 Φ80 防风罩有效高度(mm) 237 237 237 237 237 237 外形尺寸(W×D×H)(mm) 245×321×344 *精细量程内10g样品典型数据：±0.03mg