梅特勒AB135-S电子分析天平

采用高分辨率称量单元，满足用户高精度的称量需求 AB-S/FACT采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术(FACT)，有效消除环境温度变化对称量结果精确性的影响；AB-L采用内置砝码自动校准，AB-S采用外置砝码自动校准，确保称量结果的精确性 双量程(DualRange)设计，满足客户对不同样品精确称量的需求 采用背亮式液晶显示屏(可读性0.01mg型号除外)，方便用户在不同称量环境下读取称量结果 全金属铸铝制成的防化防撞击机架，保证了天平的长期使用 采用可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁 标配机架塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀 内置RS232C通讯接口，方便连接打印机和电脑等外围设备 既有简单称量，百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序