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![]() 北京精微高博科技开发中心自行研制成功的JW―04型全自动超细粉体材料比表面积测试仪，该项目填补了我国同类产品的空白。
比表面积是指每克物质的表面积，是用于评价粉体材料的活性、吸附、催化等多种性能的重要物理属性。
随着超细粉体材料尤其是纳米材料的迅猛发展，测定比表面积对掌握粉体材料的性能具有极为重要的意义。
适用于碳黑、白炭黑及各种硅基氧化物、氧化锌、氧化钙、氧化铝、活性炭、碳酸钙、碳纤维、氢氧化镍石墨等各种粉体材料的应用、研究、检测、生产。
涵概石化、橡胶、有色金属陶瓷、催化等相关行业及科研院所和粉体及纳米材料生产厂。
由于技术先进、制造精细，并且不断革新，本机与国内外同类仪器相比其有明显的特色：
1．测量精确度高、重细性好，测量精度≤±3%；
2．测量范围广，可测定比表面积为0.1~3500/g；
3．测定速度快，每次测定一个标准样品和三个被测样品，总计需时仅半小时；
4．数据采集软件系统先进，灵敏度高，直接打印出测试曲线和结果；
5．操作系统设计巧妙，结构简单，样品及液氮容器系统封闭在主机中，运作安全可靠，外形美观；
6．本机的核心气路采用了多种新的技术措施，包括采用高质量的测试气体和高灵敏检测传感器，全部采用进口气动密封接插件，以保证气路系统具有最优的可靠性和测量灵敏度。
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| 公司名称： |
北京精微高博科技开发中心 |
公司类型： |
企业单位 (制造商) |
| 所 在 地： |
北京 |
公司规模： |
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| 注册资本： |
未填写 |
注册年份： |
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| 资料认证： |
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| 保 证 金： |
已缴纳 0.00 元 |
| 经营模式： |
制造商 |
| 主营行业： |
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